N8130超高采樣率超級(jí)電容容量?jī)?nèi)阻測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：N8130超高采樣率超級(jí)電容容量?jī)?nèi)阻測(cè)試儀
N8130超高采樣率超級(jí)電容測(cè)試儀為NGI公司針對(duì)超級(jí)電容、電池研發(fā)和生產(chǎn)而自主設(shè)計(jì)開發(fā)的新一代專用測(cè)試儀器。采樣速度高達(dá)1ms，充轉(zhuǎn)放過程無(wú)縫切換，N8130WAN全滿足超級(jí)電容、電池充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進(jìn)行高精度測(cè)試測(cè)量。

更新時(shí)間：2025-07-05

產(chǎn)品型號(hào)： N8130A-06005

所屬分類：超級(jí)電容測(cè)試系列

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詳細(xì)說(shuō)明：

N8130超高采樣率超級(jí)電容容量?jī)?nèi)阻測(cè)試儀

N8130系列超高采樣率超級(jí)電容容量?jī)?nèi)阻測(cè)試儀

超高采樣率，超快響應(yīng)速度，超級(jí)電容測(cè)試

N8130超高采樣率超級(jí)電容測(cè)試儀為NGI公司針對(duì)超級(jí)電容、電池研發(fā)和生產(chǎn)而自主設(shè)計(jì)開發(fā)的新一代專用測(cè)試儀器。采樣速度高達(dá)1ms，充轉(zhuǎn)放過程無(wú)縫切換，N8130WAN全滿足超級(jí)電容、電池充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進(jìn)行高精度測(cè)試測(cè)量。N8130支持六步法，IEC62391，QC/T 741等全部主流測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，用戶可根據(jù)需要靈活選。N8130上位機(jī)軟件支持平臺(tái)化測(cè)試應(yīng)用，用戶可根據(jù)測(cè)試工藝和測(cè)試流程自行定制測(cè)試文件，測(cè)試結(jié)果可方便存儲(chǔ)和導(dǎo)出。導(dǎo)出格式可支持?jǐn)?shù)據(jù)庫(kù)、EXCEL、JPG文件。

產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 電流范圍：0-50mA / 500mA / 2A / 10A

■ 電壓范圍：0-6V

■ 恒流充電、恒流放電、恒壓充電、循環(huán)壽命、充電容量，放電容量、DCIR(直流等效內(nèi)阻)等參數(shù)測(cè)試

■ 采樣&通訊傳輸間隔高達(dá)1ms，WAN全真實(shí)還原測(cè)試過程數(shù)據(jù)

■ 充轉(zhuǎn)放過程無(wú)縫切換，無(wú)過充過放

■ 功能豐富的上位軟件，支持生產(chǎn)分選功能

■ 每通道對(duì)應(yīng)狀態(tài)指示燈，分選更方便

■ 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與分析功能

■ 百兆以太網(wǎng)通訊

■ 兼容A/h、W/h、F等多種容量測(cè)試方法

功能與優(yōu)勢(shì)

容量測(cè)量

N8130可測(cè)量超級(jí)電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。測(cè)試方法為：對(duì)被測(cè)超級(jí)電容以恒定電流進(jìn)行充（放）電，在充（放）電過程中記錄時(shí)間和電壓參數(shù)，通過計(jì)算充（放）電過程中電壓對(duì)時(shí)間的斜率計(jì)算容量。用戶可根據(jù)IEC等各種測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)自行選擇電壓、時(shí)間參數(shù)進(jìn)行計(jì)算。

充電容量計(jì)算公式：

放電容量計(jì)算公式：

其中：Ur表示額定電壓/U1表示充電容量計(jì)算起始電壓 /U2表示充電容量計(jì)算截止電壓U3表示放電容量計(jì)算起始電壓 / U4表示放電容量計(jì)算截止電壓I1表示充電電流 / I2表示放電電流

直流內(nèi)阻(DCIR)測(cè)試

N8130具有豐富的直流內(nèi)阻測(cè)量功能，支持業(yè)內(nèi)多種主流DCIR測(cè)試方法：多脈沖法、單脈沖法、充轉(zhuǎn)放法、六步測(cè)試法、IEC測(cè)試法，可滿足絕大部分用戶測(cè)試需求。NGI核心測(cè)試技術(shù)確保在各種測(cè)試方法中獲取高精度內(nèi)阻測(cè)量結(jié)果。

QC/T 741法直流等效內(nèi)阻計(jì)算公式：

壽命測(cè)試

N8130可通過重復(fù)充放電循環(huán)測(cè)試，測(cè)量超級(jí)電容在充放電過程中表征壽命特征的各項(xiàng)物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級(jí)電容在不同應(yīng)用環(huán)境下的預(yù)計(jì)壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標(biāo)。壽命測(cè)試結(jié)果可用于指導(dǎo)材料、工藝、存儲(chǔ)等諸多環(huán)節(jié)的改善。